Compact Digital Next>series

Die jüngsten Innovationen bei digitalen Komponenten erfordern ein anspruchsvolleres digitales Prüfgerät, dessen Fähigkeiten über den einfachen Logikanalysator hinausgehen. Die industrielle Fertigung erfordert Verarbeitungsfunktionen auch auf Hardware-Ebene, um Testzeiten zu beschleunigen. Gleichzeitig werden diese durch die neuen Logikfamilien, die auf variablen Spannungspegeln und Einzel- oder Differentialsignalen basieren, immer komplexer.

Der als Compact Digital Test System (DTS) Next>Serie bezeichnete Tester ist die Antwort von Seica auf die ständige Nachfrage nach dem Testen integrierter Bauelemente mittels vektorbasierter Techniken und spezieller Protokolle wie Boundary Scan, ohne die Notwendigkeit auszuschließen, auch den In-Circuit-Test zu kombinieren.

ATE-Ressourcen -ICT und Funktionsprüfung

Wie jede andere Lösung von Seica nutzt das Testsystem der Compact DTS Next>Serie die Software VIP-Plattform, deren Hauptmerkmal die Möglichkeit ist, beste Integration von Technologie und Benutzerfreundlichkeit zu bieten. Der Benutzer muss kein Experte auf dem Gebiet sein, denn sie stellt ihm alle erforderlichen Funktionen sowohl für In-Circuit- als auch für Funktionstests zur Verfügung.

Dies ist möglich dank des hochmodernen Messsystems (basierend auf dem ACL-eigenen Modul) und der VIVA-Managementsoftware. Das Messsystem, das auf DSP-Technologie implementiert ist, integriert alle Testfunktionen und ermöglicht gleichzeitig eine vollautomatische Testausführung. Darüber hinaus wird durch die Kommunikation mit dem Haupt-PC über ein Glasfaserkabel die Empfindlichkeit gegenüber externen Störungen minimiert. Die VIVA Managementsoftware, die mit einer einfachen und benutzerfreundlichen Logik entworfen wurde, bietet Betriebsautonomie in Bezug auf die Systemverwaltung und die Ausführung der Testroutinen. Mit dem Modul „Quick Test“, einer grafischen Software, die speziell für die Erstellung und Ausführung von Funktionstests in verkürzter Zeit entwickelt wurde, kann der Bediener beliebige Systemressourcen ordnungsgemäß programmieren, ohne die interne Architektur oder eine spezifische Programmiersprache zu kennen. 

Digitaltests bis zu 25 MHz

Neben der Tatsache, dass das ACL-Modul bereits 4 digitale Kanäle auf jedem TP besitzt, hat Seica seine Hardware für digitale Tests im Laufe der Zeit weiter entwickelt, um die im F50-Modul integrierten Leistungen und Funktionen zu verbessern.
Dabei handelt es sich um eine Karte mit 32 digitalen Kanälen, die eine Musterrate von bis zu 25 MHz erreichen kann. Sie umfasst digitale Treiber und Sensoren (mit Signalspannungsprogrammierung bis zu 12V und einem dedizierten On-Board-Speicher von 256Kb), 4 Impulsgeneratoren, die auch im taktfreien Betriebsmodus (1 auf 8 Kanäle der Karte) arbeiten können, wodurch sie entweder synchron oder asynchron zu den digitalen Mustern arbeitet. All dies, kombiniert mit den 4 unabhängigen Frequenz-, Perioden- oder Impulszählern und den Ressourcen für 2-Leiter-Analogtests, macht das F50 Modul zu einer hochmodernen Lösung.

Programm Software

Die VIVA-Umgebung ist das Ergebnis von dreißig Jahren Erfahrung von Seica im Bereich des elektronischen Tests und bietet eine Reihe von Optionen und Funktionen, die sie wirklich flexibel und Benutzer freundlich machen. Diese Software ermöglicht dem Benutzer die Kombination von ICT und Funktionstests, um die Prozessgeschwindigkeit und Fehlerabdeckung durch eine funktionale grafische Umgebung zu verbessern, die den Benutzer durch die Schritte der Testprogrammerstellung und -ausführung führt. Für die digitale Testentwicklung steht eine dedizierte Umgebung NVL (Neutral VIVA Language) zur Verfügung, in der es möglich ist, Programme zu prüfen, zu debuggen und auszuführen. Sie ermöglicht die gleichzeitige Handhabung und Integration von analogen, digitalen Funktions- und „Management“-Anweisungen, um einen vollständigen Funktionstest durchzuführen.

 Bei der Speicherprogrammierung (z.B. I2C, SPI-Protokoll) ermöglicht NVL eine einfache Integration und die direkte Verwendung von Standard Intel/Motorola (.bin, .mot, .hex) Programmierdateien. Ein grafisches Tool mit der Möglichkeit der Wellenformerfassung über externe Testnadel oder einen internen Kanal erleichtert die Reparatur im Falle einer digitalen Funktionsprüfung zusätzlich. Die offene Architektur der VIVA-Software macht sie mit anderen Programmiersprachen (z.B. Python, VBS) und Softwaremodulen von Drittanbietern (EXE. und .DLL) kompatibel.

Verschiedene Konfigurationen für eine verbesserte Implementierung

Der digitale Teil eines DTS-Testers kann so konfiguriert werden, dass er verschiedene Anforderungen erfüllt und beste Leistung erzielt:
– Nutzung des direkten Digitalkanalanschlusses der F50-Karte. Die verfügbaren Systemressourcen sind vollständig digital.
– Implementierung von direkten Hybridkanälen durch Kombination von F50- und S64-Karten. Diese Lösung stellt an den Testpunkten alle digitalen und analogen Ressourcen des Compact DTS Next>Serien-Testers zur Verfügung. Es handelt sich um eine direkte Kanalkonfiguration, die die Wiederherstellung vorhandener, auf anderen Testsystemen implementierter Fixtures ermöglicht.
– Bündeln von digitalen Kanälen: Wenn eine hohe Anzahl von digitalen Kanälen erforderlich ist, kann Seica auch eine kostengünstige Lösung zum Multiplexen der digitalen Kanäle (sogar mit einem Verhältnis von 1:8) anbieten, wodurch der DTS-Tester zu einem volldigitalen System wird, das die Systemressourcen optimiert. 

Neue Ergonomie

Unter Beibehaltung der Kernmerkmale der Produktfamilie wurde die Compact DTS Next>Serie so konzipiert, dass eine sofortige In-Line-Integration möglich ist, da alle Elemente, die aus mechanischer Sicht mit robotisierten Linien inkompatibel sind, entfernt wurden.
Die Verwendung eines Vakuumreceivers, der optional zusammen mit dem pneumatischen Standardreceiver erhältlich ist, macht das Produkt noch kompakter und bietet gleichzeitig eine größere Flexibilität bei der Verwendung verschiedener Arten von Adaptern je nach den Anforderungen.