In-Circuit und Funktionstester
High Performance, Flexibility and Throughput
the Compact series has been designed to maximize configurability to meet the most diverse test requirements, allowing the user to choose the configuration which best suits theapplication: in-circuit tester, functional test bench or a completely automated test solution which can be integrated directly in the production line.
Die Compact Linie wurde entwickelt, um den Anforderungen der sogenannten “lean production” zu entsprechen, unter Berücksichtigung der Anforderungen bei der Produktion von elektronischen Baugruppen. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologisch konkurrenzfähig , bietet die höchste Flexibilität, mit hoher Messgenauigkeit, hoher Testgeschwindigkeit, auf kleinem Platz mit minimaler Standfläche und mit geringem Verbrauch ist sie so ein Spitzenprodukt. Compact Systeme repräsentieren eine optimale Lösung für:
- Analogen und digitalen In-Circuit Test
- Analogen, digitalen und Power Funktionstest
- Boundary Scan Test
- Digitale Komponentenprogrammierung (OBP von Microcontrollern, Memories, etc…)
- Hochspannungstest
Compact Linie ist characterisiert durch die Erforschung der Optimierung von Testkosten , mit spezieller Aufmerksamkeit auf die Platzreduzierung (Standfläche und Gesamtdimensionen), Zeiten (für den Test) und generell von Verlusten, bietet sie die volle Kompatibilität zur Strategy Linie in Bezug auf Programmen und Prüfadapter. Alle Systeme der Compact Linie basieren auf der Seica VIP Plattform, den umfassenden Eigenschaften der ACL synthetisierten Drive und Sense Instrumente und der VIVA Management Software; aber falls erforderlich, können die Systeme der Compact Linie auch durch ein alternatives Software Packet gesteuert werden, wie LabviewTM, LabWindowsTM/CVI und TestStandTM von National Instruments.
Die Compact Linie umfasst unterschiedliche Modelle um den größtmöglchen Bereich von Ökonomik und technischen Anforderungen zu entsprechen:
Compact TK: Stand-Alone Konfiguration für ICT/OBP
Compact SL: In-line Konfiguration für ICT/OBP/Funktionstest
Compact Multi: Stand-Alone Konfiguration für ICT/OBP/Funktionstest
Compact Power: Stand-Alone Konfiguration für Leistungsfunktionstests
Compact Multimedia
Compact Digital Next> series
Compact Slim Next> series
Compact Cube Next> series
Compact RT Next> series
Im Falle von neuen Anforderungen in Bezug auf Leistung und/oder Ergonometrie, kann Seica kundenspezifische Compact Lösungen für einen Kunden generieren, durch Integrieren von Instrumenten und Third Party Software Packeten, oder mit der Entwicklung von dedizierten Hardware und Software Modulen um den spezifischen Kundenanforderungen zu entsprechen.
